sem掃描電鏡主要用來分析下面這幾種

日期：2022-12-21 09:30:30 瀏覽次數：269

掃描電鏡與普通顯微鏡相比，分辨率更高、放大倍數更多、景深大、視野大且成像立體效果更好等諸多優點，使其應用領域更加廣泛。今天主要帶大家了解sem掃描電鏡主要用來分析什么！

臺式掃描電鏡.jpg

納米材料：納米材料的定義就是指組成材料的顆粒或微晶尺寸在0.1-100nm范圍內，因為掃描電鏡具有很高的分辨率。所以多數用于觀察納米材料。

材料斷口：sem掃描電鏡所顯示的斷口形貌從深層次，高景深的角度呈現材料斷裂的本質，在材料斷裂原因、事故原因等判定帶來很大幫助。

直接觀察原始表面：它能夠直接觀察直徑，或更大尺寸的試樣，對試樣的形狀沒有任何限制，粗糙表面也能觀察，這便免除了制備樣品的麻煩，而且能真實觀察試樣本身物質成分不同的襯度

觀察厚試樣：用掃描電鏡觀察厚塊試樣更有利，更能得到真實的試樣表面資料。